Finalité :

Dans l’industrie des semi-conducteurs, le contrôle de la qualité des produits à chaque étape de fabrication est essentiel pour garantir la conformité des composants livrés aux clients.

Au sein de l’équipe Yield Enhancement Defectivity, vous contribuerez à l’analyse des défauts observés sur les tranches de silicium (wafers). Votre mission principale consistera à développer un outil permettant d’identifier les liens entre certaines signatures de défauts et les équipements susceptibles d’en être à l’origine.

Vos missions :

• Recueillir et analyser les besoins auprès des membres de l’équipe Défectivité afin de caractériser les différents types de signatures de défauts.
• Collecter les informations nécessaires auprès des ingénieurs Process, des équipes Maintenance et des opérateurs de production.
• Structurer et consolider les données recueillies.
• Concevoir et mettre à disposition un outil ou un support utilisateur facilitant l’identification des équipements potentiellement responsables de certaines défectivités.
• Participer aux échanges avec les différents acteurs de la fabrication afin de garantir la pertinence et l’utilisabilité de la solution développée.

Votre profil

• Vous préparez un diplôme de niveau Bac+4 à Bac+5 (école d’ingénieur ou Master) avec une spécialisation en microélectronique, physique, matériaux, génie industriel, data engineering ou dans un domaine équivalent.
• Vous faites preuve de rigueur, de curiosité et d’un bon esprit d’analyse.
• Vous appréciez les environnements techniques et les problématiques de terrain.
• Vous êtes autonome tout en sachant travailler efficacement en équipe.
• Vous possédez un bon relationnel et êtes à l’aise pour collaborer avec des interlocuteurs variés.